BEKIJK
Mijn Onderwerpen
Alle Onderwerpen
Alle Publicaties
Alle Auteurs
Alle trefwoorden
Niet gesorteerd
Nieuwe publicaties
Zoek
EXPORTEER
Exporteer alle publicaties
SYSTEEM
Help
Over deze site
GASTGEBRUIKER
anonymous
Onderwerpen abbonneren
AANMELDEN
Naam:
wachtwoord:
Deutsch
,
English
,
Nederlands
,
Norsk
,
Português
,
<meer...>
[
BibTeX
] [
RIS
]
Metrics reloaded: Pitfalls and recommendations for image analysis validation
Publicatietype:
Artikel
Citatie:
Tijdschrift:
ArXiv
Jaar:
2022
Trefwoorden:
Auteurs
Maier-Hein, Lena
Reinke, Annika
Müller, Henning
et al.
Toegevoegd door:
[]
Totaalscore:
0
Bestanden
2206.01653v3.pdf
Aantekeningen
Onderwerpen